|
非飽和高壓加速老化試驗機用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗!隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03
|
高壓加速老化試驗機用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗!隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多.為了提高試驗效率、減少試驗時間。
更新時間:2025-07-03